@misc{Serafińczuk_Jarosław_Depth_2020,
 author={Serafińczuk, Jarosław and Pawlaczyk, Łukasz and Podhorodecki, Artur and Gaponenko, Nikolai and Molchan, Igor and Thompson, George},
 contributor={Urbańczyk, Wacław. Redakcja},
 identifier={DOI: 10.37190/oa200110},
 year={2020},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 description={Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1, s. 127-134},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 language={eng},
 title={Depth dependent X-ray diffraction of porous anodic alumina films filled with cubic YAlO3:Tb3+ matrix},
 type={artykuł},
 keywords={optyka, PAA, X-ray diffraction, AFM, SEM, crystallization},
}