@misc{Szyszka_Adam_Characterization_2011,
 author={Szyszka, Adam and Ściana, Beata and Radziewicz, Damian and Macherzyński, Wojciech and Paszkiewicz, Bogdan and Tłaczała, Marek},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Urbańczyk, Wacław. Redakcja},
 year={2011},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 description={Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 281-288},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 language={eng},
 title={Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy},
 type={artykuł},
 keywords={optyka, scanning spreading resistance microscopy (SSRM), spreading resistance, GaAs, atomic force microscopy (AFM)},
}