@misc{Żukowska_Krystyna_Ellipsometry_2001,
 author={Żukowska, Krystyna and Oleszkiewicz, Ewa},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Wilk, Ireneusz. Redakcja},
 year={2001},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 description={Optica Applicata, Vol. 31, 2001, nr 1, s. 35-51},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 language={eng},
 title={Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology},
 type={artykuł},
 keywords={optyka},
}