Tytuł:

The study of structural and optical properties of TiO2:Tb thin films

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Borkowska, Agnieszka ; Domaradzki, Jarosław ; Kaczmarek, Danuta ; Wojcieszak, Damian

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; terbium ; TiO2 ; thin films ; magnetron sputtering

Opis:

Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4, s. 335-340

Abstrakt:

This work presents the study of the structural and optical properties of TiO2:Tb thin films deposited on Si (100) and SiO2 substrates by magnetron sputtering from metallic Ti-Tb mosaic target. Thin films were studied by means of scanning electron microscopy with energy disperse spectrometer (SEM-EDS), atomic force microscopy (AFM), X-ray diffraction (XRD) and the optical transmission method. From SEM-EDS the total amount of Tb concentration was determined. XRD analysis revealed the existence of crystalline TiO2 in the form of anatase and rutile, depending on Tb amount in the examined samples. The optical transmission method has shown that Tb doping shifts the fundamental absorption edge of TiO2 toward the longer wavelength region.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2007

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007 ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska