Zhang, Wucong ; Dong, Bo ; Zhang, Wei ; He, Zhaoshui ; Xie, Shengli ; Zhou, Yanzhou
Współtwórca: Temat i słowa kluczowe:optyka ; depth-resolved measurement ; compression displacement field ; wavenumber-scanning interferometry ; epoxy
Opis:Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 2, s. 311-323
Wydawca:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania: Data wydania: Typ zasobu: Identyfikator zasobu: Źródło:<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Powiązania:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018 ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału: