Title:

Utilization of the cyclic interferometer in polarization phase-shifting technique to determine the thickness of transparent thin-films

Group publication title:

Optica Applicata

Creator:

Kaewon, Rapeepan ; Pawong, Chutchai ; Chitaree, Ratchapak ; Lertvanithphol, Tossaporn ; Bhatranand, Apichai

Contributor:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Subject and Keywords:

optyka ; polarization phase-shifting technique ; cyclic interferometric configuration ; non-destructive thickness measurements ; transparent thin-films

Description:

Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1, s. 69-81

Publisher:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Place of publication:

Wrocław

Date:

2020

Resource Type:

artykuł

Resource Identifier:

doi:10.37190/oa200106

Source:

<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska