Tytuł:

Opracowanie metodologii charakteryzacji struktury elektronowej, gęstości stanów i morfologii powierzchni warstw techniką spektromikroskopii DEEM

Tytuł odmienny:

Development of a methodology for characterisation of electronic structure, density of states and surface morphology of layers by DEEM spectromicroscopy technique

Autor:

Ceballos, Gabriel

Współtwórca:

Tłaczała, Marek. Promotor ; Grzelakowski, Krzysztof. Promotor

Temat i słowa kluczowe:

spektromikroskop DEEM ; mikroskopia elektronowa ; fizyka powierzchni ; struktura elektronowa

Abstrakt:

Celem rozprawy było wykazanie słuszności tezy, mówiącej o możliwości jednoczesnego i skorelowanego obrazowania morfologii powierzchni i odpowiadającej jej lokalnej struktury elektronowej z zastosowaniem rozbudowanego systemu spektromikroskopowego UPS-DEEM.

Wydawca:

Politechnika Wrocławska

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2022

Typ zasobu:

rozprawa doktorska

Język:

pol

Powiązania:

Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikosystemów

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Właściciel praw:

Własność autora

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska