Obiekt

Tytuł: Structural, optical and electrical characterization of Co-Pd doped TiO2 semiconducting thin films sputtered on silicon

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

16 sty 2019

Data dodania obiektu:

5 kwi 2018

Liczba wyświetleń treści obiektu:

53

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

53

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/44736

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji