Numerical study on thermal stress cutting of silicon wafer using two-point pulsed laser
Tytuł publikacji grupowej: Autor:Liu, Jian ; Lu, Jian ; Ni, Xiaowu ; Dai, Gang ; Zhang, Liang ; Chen, Yanbei
Współtwórca:Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Temat i słowa kluczowe:optyka ; brittle materials ; thermal stress ; laser cutting
Opis:Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 1, s. 247-255
Wydawca:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania: Data wydania: Typ zasobu: Format: Źródło:<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Powiązania:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału: