Title:

X-ray, AFM, UV–VIS–IR analysis of a-Si:H/μc-Si:H supperlattice structure

Group publication title:

Optica Applicata

Creator:

Kołodziej, Andrzej ; Baranowski, Witold ; Kusior, Edward ; Kanak, Jarosław

Contributor:

Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Subject and Keywords:

optyka ; X-ray ; atomic force microscopy (AFM) ; UV–VIS–IR analysis ; nc-Si:H multilayer structure

Description:

Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 449-454

Publisher:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Place of publication:

Wrocław

Date:

2011

Resource Type:

artykuł

Format:

application/pdf

Source:

<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska