Yingchun, Wu ; Yiping, Cao ; Mingteng, Lu ; Kun, Li
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1, s. 31-41
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa120103 ; oai:dbc.wroc.pl:54056
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 15, 2019
Nov 21, 2018
79
77
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/88005
Edition name | Date |
---|---|
An on-line phase measuring profilometry based on modulation | Jan 15, 2019 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Li, Jingsong Liu, Kun Zhang, WeiJun Chen, Weidong Gao, Xiaoming Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wu, Yingchun Cheng, Xing Liang, Jie Wang, Anhong Zhao, Xianling Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Motyka, Marcin Sęk, Grzegorz Janiak, Filip Ryczko, Krzysztof Misiewicz, Jan Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Suhr, Lau Frejstup Madsen, Peter Tafur Monroy, Idelfonso Vegas Olmos, Juan Jose Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Liu, Yong Li, Baosheng Zhai, Yufeng Wang, An Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Shao, Jie Gao, Xiaoming Zhang, Weijun Yuan, Yiqian Ning, Lixin Yang, Yong Pei, Shixing Huang, Wei Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wang, Guo-Dong Liu, Cai-Xia Sun, Dong-Ming Guo, Wen-Bin Chen, Wei-You Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja