Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Opracowanie i udostępnienie materiałów przeprowadzono w ramach umowy nr BIBL/SP/0020/2024/02 ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach programu Społeczna Odpowiedzialność Nauki II ; Digitalizację materiałów przeprowadzono w ramach umowy nr BIBL/SP/0020/2024/02 ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach programu Społeczna Odpowiedzialność Nauki II
Jul 8, 2025
Jun 23, 2025
15
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/175711
| Edition name | Date |
|---|---|
| Data driven reliability prediction based on accelerated life test results | Jul 8, 2025 |
Maciejewski, Henryk
Maciejewski, Henryk