Evmenova, Anna ; Odarych, Volodymyr ; Vuichyk, Mykola
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3, s. 667-675
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa120320 ; oai:dbc.wroc.pl:55936
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
15 sty 2019
30 lis 2018
77
89
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/90961
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Ellipsometric investigation of CdTe films | 15 sty 2019 |
Evmenova, Anna Z. Odarych, Volodymyr A. Sizov, Fedir F. Vuichyk, Mykola V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kyselak, Martin Dvorak, Filip Maschke, Jan Vlcek, Cestmir Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja