Object
Title: Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm
Creator:
Serafińczuk, Jarosław ; Pietrucha, Jakub ; Schroeder, Grzegorz ; Gotszalk, Teodor P.
Contributor:
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Description:
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 315-322
Publisher:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication:
Date:
Resource Type:
Resource Identifier:
Source:
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language:
Relation:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Dec 12, 2018
Number of object content hits:
2 821
Number of object content views in PDF format
2814
All available object's versions:
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/95185
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm | Jan 16, 2019 |
Similar
Gotszalk, Teodor P. Janus, Paweł Marendziak, Andrzej Szeloch, Roman F. Gaj, Miron. Redakcja
Skwierczyński, Jan M. Małozięć, Grzegorz Kopiec, Daniel Nieradka, Konrad Radojewski, Jacek Gotszalk, Teodor P. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Korbutowicz, Ryszard Wnęk, Jan Panachida, Paweł Serafińczuk, Jarosław Srnanek, Rudolf Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Depth dependent X-ray diffraction of porous anodic alumina films filled with cubic YAlO3:Tb3+ matrix
Serafińczuk, Jarosław Pawlaczyk, Łukasz Podhorodecki, Artur Gaponenko, Nikolai Molchan, Igor Thompson, George Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Motyka, Marcin Gelczuk, Łukasz Dąbrowska-Szata, Maria Serafińczuk, Jarosław Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Serafińczuk, Jarosław Dziedzic, Andrzej. Promotor
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
