Chrzanowski, Krzysztof ; Li, Xianmin
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3, s. 727-735
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010 ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 30, 2019
Jan 30, 2019
107
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/98192
| Edition name | Date |
|---|---|
| Configuration of systems for testing thermal imagers | Jan 30, 2019 |
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gruhn, Wojciech
Chen, Yanling Cheng, Lianglun Wu, Heng Chen, Ziyang Li, Feng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Li, Jianmin Chen, Peng Fang, Bo Cai, Jinhui Zhang, Le Wu, Yinglai Jing, Xufeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Karolczak, Jerzy Gaj, Miron. Redakcja
Piotrowski, Tadeusz Tomaszewski, Daniel Węgrzecki, Maciej Malyutenko, Vladimir K. Tykhonov, Andrew M. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kulesza, Sławomir