Object

Title: Systemy bonus-malus z wieloletnią historią szkodową

Title in english:

Multi-year bonus-malus systems

Creator:

Bijak, Wojciech ; Dziel, Piotr

Description:

Śląski Przegląd Statystyczny = Silesian Statistical Review, 2017, Nr 15, s. 7-34

Abstrakt:

Powszechną praktyką w taryfikacji ubezpieczeń komunikacyjnych jest wykorzystywanie systemów bonus-malus (BM) bazujących na jednorocznej historii szkód ubezpieczonych. Zakłady ubezpieczeń prowadzące w Polsce ubezpieczenia komunikacyjne OC posiadaczy pojazdów mechanicznych – OC p.p.m. lub AC mają możliwość weryfikowania wieloletniej historii szkodowej swoich klientów w bazie danych Ośrodka Informacji UFG (OI UFG). W artykule podjęto próbę modelowania liczby szkód w okresie wielu lat za pomocą wielowymiarowych rozkładów dyskretnych (Poissona, uogólnionego Poissona, ujemnego dwumianowego i ujemnego wielomianowego). Rozpatrywane wielowymiarowe rozkłady zostały wykorzystane do skonstruowania sprawiedliwych ze względu na reguły przejścia systemów BM opartych na wieloletniej historii szkód. Rozważania teoretyczne zostały zilustrowane przykładami numerycznymi wykorzystującymi dane szkodowe zgromadzone w bazie danych OI UFG

Publisher:

Wydawnictwo Uniwersytetu Ekonomicznego we Wrocławiu

Place of publication:

Wrocław

Date:

2017

Resource Type:

artykuł

Resource Identifier:

oai:dbc.wroc.pl:37325

Language:

pol

Relation:

Śląski Przegląd Statystyczny = Silesian Statistical Review, 2017, Nr 15 (21)

Rights:

Pewne prawa zastrzeżone na rzecz Autorów i Wydawcy

Access Rights:

Dla wszystkich zgodnie z licencją

License:

CC BY-NC-ND 3.0 PL

Location:

Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Object collections:

Last modified:

Jun 11, 2022

In our library since:

Sep 15, 2017

Number of object content hits:

484

Number of object content views in PDF format

479

All available object's versions:

https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/41400

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Similar

×

Citation

Citation style:

This page uses 'cookies'. More information