Obiekt
Tytuł: Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition
Autor:
Krajewski, Tomasz A. ; Łuka, Grzegorz ; Wachnicki, Łukasz ; Jakieła, Rafał ; Witkowski, Bartłomiej ; Guziewicz, Elżbieta ; Godlewski, Marek ; Huby, Nolwenn ; Tallarida, Grazia
Współtwórca:
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Opis:
Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4, s. 865-874
Abstrakt:
Wydawca:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania:
Data wydania:
Typ zasobu:
Identyfikator zasobu:
Źródło:
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język:
Powiązania:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009 ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału:
Tytuł publikacji grupowej:
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Uczestnicy Konsorcjum > 01. Politechnika Wrocławska > Czasopisma > Wydane w PWr > Optica Applicata
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Zasoby > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Dziedziny nauki > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Data ostatniej modyfikacji:
15 mar 2019
Data dodania obiektu:
15 mar 2019
Liczba wyświetleń treści obiektu:
210
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/112016
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition | 15 mar 2019 |
Podobne
Gierałtowska, Sylwia Wachnicki, Łukasz Witkowski, Bartłomiej S. Godlewski, Marek Guziewicz, Elżbieta Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Witkowski, Bartłomiej Sławomir Wachnicki, Łukasz Nowakowski, Piotr Suchocki, Andrzej Godlewski, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wójcik, Aleksandra Kopalko, Krzysztof Godlewski, Marek Łusakowska, Elżbieta Guziewicz, Elżbieta Minikayev, Roman Paszkowicz, Wojciech Świątek, Krzysztof Klepka, Marcin Jakieła, Rafał Kiecana, Michał Sawicki, Maciej Dybko, Krzysztof Phillips, Matthew R. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Gaj, Miron. Redakcja
Godlewski, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Nocuń, Marek Pająk, Zuzanna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Photoluminescence spectroscopy for the evaluation of band potential roughness of InGaN active layers
Kazlauskas, Karolis Jursenas, Saulius Miasojedovas, Saulius Pobedinskas, Paulius Tamulaitis, Gintautas Zukauskas, Arturas Ivanov, Vitalii Yu. Godlewski, Marek Skierbiszewski, Czesław Siekacz, Marcin Leszczyński, Michał Franssen, Gijs Perlin, Piotr Suski, Tadeusz Grzegory, Izabella Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jakieła, Rafał Jasik, Agata Strupiński, Włodzimierz Góra, Krzysztof Kosiel, Kamil Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
