Sun, Song ; Cao, Yiping ; Chen, Cheng ; Fu, Guangkai ; Wang, Yapin ; Xu, Xingfen
Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 1, s. 39-51
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa180104 ; oai:dbc.wroc.pl:109350
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018 ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
6 lis 2025
8 kwi 2021
70
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/151273
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| A method for measuring the quality parameters of image intensifier based on projecting phase-shifting gratings | 6 lis 2025 |
Xu, Xingfen Cao, Yiping Chen, Cheng Cao, Senpeng Peng, Kuang Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Zhang, Hongxia Li, Peng Jin, Qingwen Jia, Dagong Liu, Tiegen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Xu, Jing Xi, Ning Zhang, Chi Shi, Quan Gregory, John Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Xu, Xiaoqing Wang, Yawei Xu, Yuanyuan Jin, Weifeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Cao, TingFen Liu, Bowu Ni, Wei Zhang, Jinli Wang, Hui Chen, Xiaojuan Li, YinGang Zhou, Hai Jiang, Xiaodong Hu, Dongxia Zhu, Qihua Urbańczyk, Wacław. Redakcja