Bodurov, Ivan ; Yovcheva, Temenuzhka ; Sainov, Simeon
Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2, s. 199-204
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa150206 ; oai:dbc.wroc.pl:37643
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Aug 27, 2025
Oct 16, 2017
52
75
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/41660
| Edition name | Date |
|---|---|
| Five-wavelength laser microrefractometer | Aug 27, 2025 |
Ferria, Kouider Laouar, Naamane Bouaouadja, Noureddine Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bugajski, Maciej Ochalski, Tomasz Piwoński, Tomasz Wawer, Dorota Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pustelny, Tadeusz Ignac-Nowicka, Jolanta Opilski, Zbigniew Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Sivanantha Raja, A. Selvendran, S. Priya, R. Mahendran, C. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Rybiński, Janusz Bednarek, Michał Wiśniewski, Przemysław Świetlik, Tomasz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Priya, R. Sivanantharaja, A. Selvendran, S. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wójcik-Jedlińska, Anna Wasiak, Michał Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Yan, Hai-Tao Zhao, Xiao-Yan Zhang, Chao Zhen, Zhi-Qiang Li, Qiu-Ze Cao, Jing-Xiao Xia, Li-Xin Urbańczyk, Wacław. Redakcja