Tian, Zixia ; Chen, Wenjing ; Su, Xianyu
Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2, s. 291-303
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Aug 27, 2025
Oct 19, 2017
127
148
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/41742
| Edition name | Date |
|---|---|
| Method for improving sinusoidal quality of error diffusion binary encoded fringe used in phase measurement profilometry | Aug 27, 2025 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Guangze, Peng Wenjing, Chen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja