Tian, Zixia ; Chen, Wenjing ; Su, Xianyu
Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2, s. 291-303
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa160213 ; oai:dbc.wroc.pl:37781
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
19 paź 2017
106
113
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/41742
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Method for improving sinusoidal quality of error diffusion binary encoded fringe used in phase measurement profilometry | 16 sty 2019 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Litwin, D. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kaps, Ch. Schubert, R. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Antropova, Tatiana V. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kubica, J. M. Szczepański, P. Mroziewicz, B. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja