Woźnicka, G. ; Kruszewski, J. ; Gutkowski, M. T.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4, s. 275-280
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993 ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jun 30, 2025
Mar 22, 2021
123
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/64882
| Edition name | Date |
|---|---|
| Modelling of the thin-film structure for the purpose of ellipsometric measurements | Jun 30, 2025 |
Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Patej, E. J. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Kruszewski, S. Skonieczny, J. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja