Woźnicka, G. ; Kruszewski, J. ; Gutkowski, M. T.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4, s. 275-280
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993 ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
22 mar 2021
22 mar 2021
64
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/64882
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Modelling of the thin-film structure for the purpose of ellipsometric measurements | 22 mar 2021 |
Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Patej, E. J. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Kruszewski, S. Skonieczny, J. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja