Obiekt

Tytuł: Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

16 sty 2019

Data dodania obiektu:

12 gru 2018

Liczba wyświetleń treści obiektu:

2 823

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

2816

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/95185

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji