Tian, Zixia ; Chen, Wenjing ; Su, Xianyu
Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2, s. 291-303
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Aug 27, 2025
Oct 19, 2017
129
151
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/41742
| Edition name | Date |
|---|---|
| Method for improving sinusoidal quality of error diffusion binary encoded fringe used in phase measurement profilometry | Aug 27, 2025 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Guangze, Peng Wenjing, Chen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Romanowski, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Miron. Redakcja
Marcinów, Tadeusz Wesołowska, Cecylia Wiktorczyk, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Rattan, R. Gupta, A. K. Singh, K. Gaj, Miron. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Mietlarek, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Bissinger, Janusz Raczyński, Krzysztof Gaj, Miron. Redakcja