Tian, Zixia ; Chen, Wenjing ; Su, Xianyu
Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2, s. 291-303
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa160213 ; oai:dbc.wroc.pl:37781
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
27 sie 2025
19 paź 2017
129
151
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/41742
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Method for improving sinusoidal quality of error diffusion binary encoded fringe used in phase measurement profilometry | 27 sie 2025 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Guangze, Peng Wenjing, Chen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Romanowski, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Miron. Redakcja
Marcinów, Tadeusz Wesołowska, Cecylia Wiktorczyk, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Rattan, R. Gupta, A. K. Singh, K. Gaj, Miron. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Mietlarek, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Bissinger, Janusz Raczyński, Krzysztof Gaj, Miron. Redakcja