Krok, Franciszek ; Kołodziej, Jacek J. ; Such, Bartosz ; Piątkowski, Piotr ; Szymoński, Marek ; Odendaal, R. Quintin ; Malherbe, Johan B.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 221-226
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
4 kwi 2018
80
96
https://dlibra.kdm.wcss.pl/publication/44804
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Low energy ion beam-induced modification of InSb surface studied at nanometric scale | 16 sty 2019 |
Targosz, Marta Czuba, Paweł Szymoński, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja
Borkowska, Alina Wołczak, Bohdan Gaj, Miron. Redakcja